x射線衍射儀可以測(cè)什么高中化學(xué)？

束蘊(yùn)儀器

X射線衍射儀（XRD）在高中化學(xué)中主要用于測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)，具體應(yīng)用包括：  
1、晶體結(jié)構(gòu)分析  
確定晶體的晶胞參數(shù)（如邊長(zhǎng)、夾角）。  
識(shí)別晶系（如立方、六方等）。  
2、物相鑒定  
通過(guò)衍射圖譜與數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)比，確定樣品中的物相。  
區(qū)分同素異形體（如石墨與金剛石）。  
3、晶體取向分析  
測(cè)定晶體中晶面的取向，了解晶體生長(zhǎng)方向。  
4、晶粒尺寸測(cè)定  
通過(guò)衍射峰寬計(jì)算晶粒尺寸，評(píng)估晶體質(zhì)量。  
5、應(yīng)力分析  
測(cè)量晶體內(nèi)部的應(yīng)力分布，了解材料性能。  
示例：  
NaCl晶體：測(cè)定其立方晶系結(jié)構(gòu)，晶胞參數(shù)約為0.564nm。  
石英與方石英：區(qū)分這兩種SiO?的同素異形體。

倚窗聽(tīng)雨

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麻花辮子妹

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月半可怕

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星星の淚光

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絕對(duì)正義之拳

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